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马尔MarSurf CWM 100高精度测量

描述

高精度，计算机控制，亚微米级分辨率的光学测量仪器MarSurf CWM 100一款结合白光干涉和共聚焦的3D测量系统。

•合适技术，光学，反射表面，印刷电路板，半导体，以及生物组织的通用测量仪器

•2D表面分析及测量评价

•形貌3D分析及测量评价

•快速测量—非常短的测量时间

•全自动拼接功能，便捷扩展测量范围

•全自动载物定位平台：100 mm x 100 mm，更大范围可供选择

•各种物镜选择来适应测量物体

•大理石平台及立柱，JUE对结实稳定的结构

•专业的评价软件基于MountainsMap©

供货范围

•传感器系统：

-共聚焦镜头KFM带6位置转轮

-相机768 pixel x 582 pixel，高达48 images/s

-CNC控制Z轴，带Heidenhain玻璃光栅尺

-WLI软件模块，软件"Inspector"

•大理石平台及立柱以及CNC控制载物平台

•Z轴和XZ平台多轴控制来进行定位和图像拼接

•镜头50x0.8 EPI(共聚焦)

•Objective 20x0.4 DI(白光干涉)

应用

机械工程——各种金属表面(麿加工，滚筒等.)，激光纹理表面，陶瓷和塑料表面，模具表面

医疗行业——植入物，假肢和仪器的金属，陶瓷和塑料表面

电子行业——镀膜表面分析，电子元件和半导体测量和分析

光学行业——各种光学元件的形状和粗糙度分析(所有材料).

http://www.mahr-china.net/Products-29954281.html

https://www.chem17.com/st382433/product_29954281.html

 

原文链接：http://www.jx1168.com/chanpin/show-130733.html，转载和复制请保留此链接。
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